金相显微镜 SC-200M
适用于LCD屏粒子爆破检测 LED芯片尺寸测量检测 手机粒子爆破 镀层厚度分析 光纤检测等
SC-200M正置金相显微镜采用平场消色差光学系统和落射式柯拉照明系统,同时在落射照明系统中设计防反射结构,有效防止反射光干扰成像光线。具有强大的图像处理软件,从而使成像更清晰、视场衬度更好,成像系统还原性更好。
标准配置放大倍率:50X 100X 200X 500X
观察方式:透射,反射,简易偏光
应用功能:拍照,录像,测量
应用行业:LED芯片尺寸测量,手机粒子爆破,镀层厚度分析,光纤检测等
■提供稳定可靠的操作机构,使成像更清晰,操作更简便。
■显微镜镜体采用全新的人机工程学设计,结构匀称,实现镜体扩展积木化。
■工作台、光强与粗微调的低位操作,提高了使用的舒适性。
■广泛应用于各类半导体硅晶片检测、五金镀层、材料科学研究、地质矿物分析及精密工程等学科领域。
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